產(chǎn)品時間:2024-07-07
Equotip 550 便攜式金屬硬度檢測儀是使用動態(tài) Leeb、Portable Rockwell 和 UCI的便攜式硬度檢測功能的一體化解決方案。具備多探頭連接、自定義轉(zhuǎn)換曲線、可定制報告和數(shù)據(jù)導出至 PC 等功能,利用所有三種檢測方法提供*的靈活性。
Equotip 550 便攜式金屬硬度檢測儀,里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超聲波接觸阻抗(UCI)
Equotip 550三種檢測方法 – 一個解決方案
Equotip 550 是使用動態(tài) Leeb、Portable Rockwell 和 UCI的便攜式硬度檢測功能的一體化解決方案。具備多探頭連接、自定義轉(zhuǎn)換曲線、可定制報告和數(shù)據(jù)導出至 PC 等功能,利用所有三種檢測方法提供*的靈活性。
Leeb里氏 – 快速而輕松
Equotip 550 Leeb 涉及許多各種不同的里氏原理應用,由于采用了七個不同的沖擊裝置和 16 個支撐環(huán),是*快且*容易的硬度確定方法。向?qū)?、報告、映射及許多其他新功能讓硬度檢測變得比以往任何時候更方便和劃算。
Portable Rockwell洛氏 - 非常適合輕薄樣品
Equotip 550 Portable Rockwell 是一個靜態(tài)硬度檢測解決方案,在輕薄樣品應用中深受歡迎。此外,它無需進行特殊調(diào)整即可應用于幾乎所有材料,它越來越多地被當作其他測量原理的參考方法。范圍廣泛的附件使得它成為用途非常廣泛的解決方案。
UCI超聲波 - 不易接觸區(qū)域
Equotip 550 UCI 非常適合不易接觸區(qū)域(例如,焊縫、HAZ或難處理的表面結(jié)構(gòu))的測量。UCI 測量快速而輕松。利用我們****的 UCI 探頭,帶有從 HV1 至 HV10 的可調(diào)節(jié)檢測負載,僅需使用一個探頭就可以涵蓋范圍廣泛的應用。
Equotip 550 便攜式金屬硬度檢測儀觸摸屏裝置滿足嚴苛環(huán)境使用
優(yōu)化的防震外殼設計,更穩(wěn)健符合人體工程學的設計和減震橡膠外殼,可防塵和防水 (IP 54)。
具有防塵和穩(wěn)壓的電路設計,特別設計的保護橡膠帽適合所有接頭,符合低電壓安全和電磁兼容性 (EMC) 指令。
響應式觸摸屏,高分辨率顯示屏,易于使用
可定制視圖,根據(jù)您的需要設置信息顯示。
Equotip 540
適合的單個檢測方法,Equotip 540 支持無需廣泛報告功能的普通基本使用。它提供基本功能和一組基本附件,支持使用 Leeb D 或 UCI 進行便攜式硬度檢測。
Equotip 附件
附件和測試塊組合,提供具有不同硬度級別和范圍廣泛的硬度測試塊,用于定期,現(xiàn)場驗證。Proceq 還提供*的測量夾、支撐腳和環(huán)對各種,待測樣本幾何體進行檢測。
Equotip 550 便攜式金屬硬度檢測儀型號-訂貨型號
Equotip 540 Leeb D
Equotip 540 UCI HV1- HV10
Equotip 550
Equotip 550 Leeb D
Equotip 550 Leeb G
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 UCI HV1-HV10
Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件
Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件
Equotip 550 Leeb D & UCI 套件
Equotip Portable Rockwell Probe 50N*
Equotip Live Leeb D
Equotip Live Leeb D - 初始租賃費
Equotip Live Leeb D - 報告功能
Equotip Live UCI HV1- HV10